产品特点：
● 最新一代非接触式蓝光/白光扫描技术;
● 独立开发的光栅及控制系统，支持蓝光和白光两种系统，使用时可根据扫描工件表面需求调整；
● 测量速度更快：更好的实时动态性，单幅扫描速度可达0.4秒；
● 双相机采用严格硬件同步机制，测量数据更加清晰；
● 测量精度高，采用公司自身专利技术，测量精度可达0.02mm~0.05mm；
● 强大的细节分辨能力，可分辨小到头发丝的物体；
● 多种拼接方式并存：可以支持不贴标记点自动拼接（特征拼接）、标记点拼接和框架拼接（兼容摄影测量系统，可对超大物体进行扫描）方式；
● 一机多用，多种扫描规格，可适用小到几毫米大到几米的物体扫描；
● 适用范围广,可适用不同材质，刚柔性物体扫描；
● 测量输出数据接口丰富：测量所得的点云数据为ASC、STL、PLY、IGES、OBJ、DXF等, 兼容市面上通用的3D软件；
● 操作简单：无需过多的培训即可以熟练操作；
● 对环境要求低：正常办公环境下工作；
24小时候机服务，长期软件的免费升级和技术支持，自主知识产权的直接生产厂家，专业的研发团队，可以按客户需求定制。
技术参数
| 型号 | DQ-S200 | DQ-S400 | DQ-S800 |
| 扫描方式 | 非接触式蓝光/白光面扫描 |
| 单幅扫描范围(mm2 ) | 100×75～200×150 | 200×150～400×300 | 400×300~800x600 |
| 最大测量范围(mm3 ) | 1000×750×750 | 2000×1500×1500 | 4000×3000×3000 |
| 测量精度(mm) | 0.015~0.05 | 0.015～0.05 | 0.02～0.05 |
| 单幅扫描点数(像素) | 1,300,000×2(可选配200万，300万或500万） |
| 单幅扫描速度 | <1.5S |
| 平均点距(mm) | 0.05～0.15 | 0.15～0.3 | 0.3～0.6 |
| 输出文件格式 | ASC, STL, IGES, VRML, DXF等 |
| 拼接方式 | 特征拼接/标记点拼接/框架拼接 |
| 操作系统 | Windows2000 / XP /win7 32及64位系统
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详细技术报价方案请致电业务人员： 潘宏刚 21-61527719
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主要销售的产品有：三坐标，光谱仪，投影仪，偏摆仪，硬度计，气动量仪，色谱仪，测长仪，影像测量仪，齿轮测量仪，测高仪，粗糙度仪，轮廓仪，万能材料试验机，测量显微镜，万能工具显微镜，高低温试验箱，盐雾试验箱，探伤仪，三维扫描仪，激光干涉仪，光笔测量仪，圆度仪，圆柱度仪，涂层测厚仪，超声波测量仪，工业内窥镜，工业CT等。以及各类检测仪器的升级改造，维修保养服务。
