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固纬GUT-6000B数字IC测试仪 安规测试仪 -简介：
固纬GUT-6000B数字IC测试仪 安规测试仪测试电压2.5/3.0/3.3/5V DC，测试时间高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC，支持4000和5000系列CMOS。
固纬GUT-6000B数字IC测试仪 安规测试仪-特点：
GUT-6000B循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
GUT-6000B测量1800种设备
支持54/74系列TTL
GUT-6000B测试管脚：28 pin
固纬GUT-6000B数字IC测试仪 安规测试仪-技术参数：
测试范围 |
| 54/74 系列 TTL |
4000 及 4500 系列 CMOS |
DRIVE |
量测种类 |
| 约 1800 种 |
测试电压 |
| 2.5/3.0/3.3/5V DC |
测试时间 |
| 高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC |
使用电源 |
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz |
尺寸及重量 |
| 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm |
约 1.5 公斤 |
服务承诺：
1、正品保障：合测承诺对外销售的产品均为正品，如若发现假货，我们将假一罚十
2、本仪器自售出之日起一周内，发现有质量问题，包退包换
3、产品自售出之日起保修一年，终身维护，但配件不在保修范围内
4、保修服务只限正常使用下有效
5、保修期间由我公司提供邮寄费
6、更全的产品信息可登陆我司官网www.heceshiye.cn查询
